Abstract (deu)
Die hier vorliegende Arbeit wurde im Laufe eines größeren Forschungsprojektes durchgeführt. Ziel dieses Projektes war die Untersuchung von Phasengleichgewichten von ternären Legierungssystemen der 3d-Übergangsmetalle mit Aluminium und Silizium. Als Beitrag zu diesem Projekt wurden die Phasendiagramme der ternären Systeme Al-Co-Si und Al-Si-V untersucht.
Über das ternäre Al-Co-Si-System waren in der Literatur bereits isotherme Schnitte bei 600, 800 und 900 °C beschrieben. Sieben ternäre Phasen im aluminiumreichen Teil des Phasendiagrammes sind bekannt. Thermische Analyse wurde in dem System bislang noch nicht durchgeführt, weshalb es keine Informationen über das Schmelzverhalten der ternären Verbindungen gab. Um das gesamte ternäre Phasendiagram aufklären zu können, wurden im Zuge dieser Arbeit zwei isotherme Schnitte im kobaltreichen Teil bei 1050 und 1200 °C untersucht. Basierend auf DTA-Messungen von Proben, die den gesamten Bereich abdecken wurden 14 vertikale Schnitte bei 5, 15, 22, 24, 25, 26, 28, 30, 35, 40, 50, 60, 66,7 und 75 at.% Co konstruiert. Diese Untersuchungen führten zur Liquidusoberfläche und zu einem Reaktionsschema (Scheil-Diagram) des gesamten ternären Systems. Laut unserer Messungen schmelzen die ternären Verbindungen alpha, gamma, delta, epsilon, phi und chi peritektisch, die Phase beta schmilzt hingegen kongruent. Zusätzliche wurden Diffusions-Paare im Al-Co-Si-System untersucht. Die beiden Diffusions-Paare AlCo/Si und AlCo/Co2Si, welche bei 900 beziehungsweise 1050 °C zur Reaktion gebracht wurden, stimmen mit den entsprechenden Isothermen ausgezeichnet überein und die Diffusionswege konnten ermittelt werden. Bei den beiden Diffusions-Paaren Al/CoSi2 und Al/CoSi, die bei 550 °C getempert wurden, wurde der Kontakt über eine fest-flüssig Zwischenschicht gebildet, weshalb die Interpretation nicht so klar wie bei den klassischen Diffusions-Paaren. Dennoch werden auch hier Diffusions-Wege vorgeschlagen.
Literaturdaten über das ternäre Al-Si-V-System waren rar und bezogen sich hauptsächlich auf den aluminiumreichen Teil. Daneben war ein isothermer Schnitte bei 1000 °C bekannt. Im Zuge dieser Arbeit wurden im Al-Si-V-System isotherme Schnitte bei 500und 620 °C im aluminiumreichen Teil und bei 850 und 1300 °C im vanadiumreicheren Teil untersucht. Die ternäre Verbindung tau wurde entdeckt, deren Zusammensetzung als Al0.6Si1.4V bestimmt wurde. Das Pulverdiffraktogramm der Phase wurde indiziert und führte zu einer orthorhombischen Zelle des TiSi2-Typs (Fddd, oF24) mit den Zellparametern a = 8,0856(1) Å, b = 4,6921(1) Å und c = 8,4954(1) Å. Dieses Ergebnis wurde mit Einkristalldiffraktometrie bestätigt. Es wurde festgestellt, dass sich tau peritektisch bei 1400 °C zersetzt. Im Al-Si-V-System wurden 4 Isoplethen bei 10, 20, 35 und 50 at.% V mittels DTA-Analyse gemessen. Zusätzlich wurden Proben direkt nach dem Lichtbogenschmelzen bezüglich Primärkristallisation untersucht. Durch die Kombination aller Ergebnisse wurden eine Liquidusoberfläche und ein Reaktionsschema (Scheil-Diagram) für das gesamte ternäre Al-Si-V-System entwickelt.
Um binäre Literaturdaten zu überprüfen, wurden im Laufe dieser Arbeit neben ternären Legierungen auch binäre Proben untersucht. Im Zuge dessen wurde im binären Al-V-System die neue Phase AlV bei niedrigeren Temperaturen entdeckt. Durch Glühversuche zwischen 450 und 560 °C mit und ohne Kristallisationsmittel wurde versucht, die Phase rein herzustellen, um Pulverdiffraktometrie oder Einkristallmessungen durchführen zu können. Bisher waren diese Versuche jedoch vergeblich und wir nehmen an, dass es sich um eine metastabile Phase handelt. Vermutlich könnten TEM-Messungen weitere Informationen über die Kristallstruktur dieser binären Phase bringen.