Abstract (eng)
Die Arbeit zielt darauf ab, numerische Simulationsmethode für Nanodrahtsensoren zu verbessern, indem der Einfluss von Unsicherheiten (oder Rauschen und Fluktuationen) im Modell bestimmt wird. Wir beginnen mit der Formulierung der stochastischen Poisson-Boltzmann Gleichung und werden dadurch auf eine semilineare, elliptische partielle Differentialgleichung mit stochastischen Daten geführt. Wir präsentieren dann zwei unterschiedliche nicht-eindringende (d.h. ein Löser für das deterministische Problem kann verwendet werden) Verfahren zur Uncertainty quantification: neben dem klassischen (quasi-)Monte Carlo Ansatz betrachten wir auch eine stochastisches Kollokationsmethode, die auf dem Smolyak Algorithmus für Tensorprodukt-Probleme basiert. Für die Implementierung entwickeln wir einen Finite-Elemente Löser für das deterministische Problem und behandeln Techniken zur numerischen Integration hochdimensionaler Funktionen. Die numerischen Resultate weisen eine sehr gute Übereinstimmung auf und zeigen, dass Smolyak dünne Gitter Quadraturverfahren, zumindest in moderaten Dimensionen, den klassischen Samplingverfahren überlegen sind. Die Methoden lassen sich ohne weitere Modifikationen parallelisieren und stellen damit einen effektiven Rahmen dar, um die stochastische lineare und nichtlineare Poisson-Boltzmann Gleichung zu untersuchen. Wir legen besondere Aufmerksamkeit auf den komplexeren nichtlinearen Fall und der große Unterschied im Verhalten der Lösung zeigt, wie wichtige die geeignete Herangehensweise an das Problem ist.