Beobachtungen auf atomarer Ebene von Materialien werden oft unter Verwendung eines Transmissionselektronenmikroskops durchgeführt. Abhängig von der Beschleunigungsspannung der Elektronen, kann der Strahl Defekte in der Probe induzieren. Dies geschieht wenn der Impulsder einfallenden Elektronen hoch genug ist um Kohlenstoffatome aus dem Gitter herauszuschlagen. Atomistische Simulationen sind eine gute Möglichkeit solche Ereignisse zu testen und vorherzusagen. Hier untersuchen wir, wie sich die Temperatur auf den Schwellwert für Atomverschiebungen auswirkt und wie dieser Effekt bei der Berechnung des Wirkungsquerschnitts berücksichtigt wird mithilfe einer auf Dichtefunktionaltheorie basierenden Tight Binding-Methode.

Atomic level observations of materials, are often carried out using a transmission electron microscope. Depending on the acceleration voltage of the electrons, the beam may induce defects in the sample. This happens when the momentum of the incoming electrons is high enough to knock out carbon atoms from the lattice. Atomistic simulations are a good way to test and predict such events. Here, we study how the temperature affects the displacement threshold and how to include this effect when calculating the displacement cross section by using a Density Functional based Tight Binding method.