Title (deu)
Messung der diffusen Streuung an binären Legierungen
Author
Robert Bernhard Verclas
Advisor
Bogdan Sepiol
Assessor
Bogdan Sepiol
Abstract (deu)
Das Vorhaben dieser Masterarbeit ist die diffuse Streuung von binären intermetallischen Phasen wie Fe55Al45 und Ni58Al42 zu untersuchen. Als Referenz diente eine diffuse Intensitätsmessung an einer Cu90Au10-Probe, da diese schon im letzten Jahrhundert von Schönfeld durchgeführt wurde und daher mit seinen Ergebnissen verglichen werden kann.
Zudem wurde eine geeignete Veranschaulichung der Daten mittels einer Polarprojektion gefunden, welche die Messergebnisse der diffusen Röntgenstreuung vergleichbar darstellt. Die von Schönfeld bestimmten Warren-Cowley Nahordnungsparameter wurden verwendet um das diffuse Streubild von Cu90Au10 in einer Polarprojektion abzubilden. Damit wurde die experimentell gemessene diffuse Intensität in dieser Masterarbeit verglichen.
Ein speziell angefertigter Präparathalter, von Bogdan Sepiol entworfen, wurde benutzt um die diffuse Streuung mit einem Si-PIN Röntgendetektor zu messen. Dieser Präparathalter wurde hierfür extra in einer Röntgenkleinwinkelanlage Nanostar installiert.
Im Nanostar wurden sowohl Kleinwinkel- als auch Weitwinkel-Röntgenstreuung-Messungen der Proben Cu90Au10, Fe55Al45, Ni58Al42 und Ni90Pt10 durchgeführt. Diese Messungen dienten zur diffusen Intensitätskorrektur und der Bestimmung der Kristallorientierung der Legierungen.
Abstract (eng)
The objective of this master thesis is to investigate the diffuse scattering of binary inermetallic crystals like Fe55Al45 and Ni58Al42. A diffuse intensity measurement of a Cu90Au10 sample served as a reference, since Schönfeld examined the diffuse scattering of the same sample as well in the last century. Thus the experimental measurements can be compared with his results.
In addition, the polar projection is found as a suitable method to compare the measurements of the diffuse scattering. The Warren-Cowley short-range order parameters determined by Schönfeld were used to create a polar projection of the diffuse diffraction pattern of Cu90Au10, which was used for comparison with the measured diffuse intesity of Cu90Au10 in this master thesis.
A special speciment mount designed by Bogdan Sepiol was utilized and installed in a small angle X-ray scattering (SAXS) system called Nanostar to measure the diffuse intensity with a Si-PIN X-ray detector.
In the Nanostar were performed SAXS and wide angle X-ray scattering (WAXS) measurements of the samples Cu90Au10, Fe55Al45, Ni58Al42 and Ni90Pt10. These measurements served for the diffuse intensity correction and the determination of the crystall orientation.
Keywords (deu)
binäre LegierungNahordnungsparameterdiffuse Streuungdiffuses StreubildNanostarWAXSSAXSCu90Au10Fe55Al45Ni58Al42Ni90Pt10
Subject (deu)
Type (deu)
Persistent identifier
https://phaidra.univie.ac.at/o:1400238
rdau:P60550 (deu)
iv, 79 Seiten : Illustrationen
Number of pages
83
Association (deu)
Title (deu)
Messung der diffusen Streuung an binären Legierungen
Author
Robert Bernhard Verclas
Abstract (deu)
Das Vorhaben dieser Masterarbeit ist die diffuse Streuung von binären intermetallischen Phasen wie Fe55Al45 und Ni58Al42 zu untersuchen. Als Referenz diente eine diffuse Intensitätsmessung an einer Cu90Au10-Probe, da diese schon im letzten Jahrhundert von Schönfeld durchgeführt wurde und daher mit seinen Ergebnissen verglichen werden kann.
Zudem wurde eine geeignete Veranschaulichung der Daten mittels einer Polarprojektion gefunden, welche die Messergebnisse der diffusen Röntgenstreuung vergleichbar darstellt. Die von Schönfeld bestimmten Warren-Cowley Nahordnungsparameter wurden verwendet um das diffuse Streubild von Cu90Au10 in einer Polarprojektion abzubilden. Damit wurde die experimentell gemessene diffuse Intensität in dieser Masterarbeit verglichen.
Ein speziell angefertigter Präparathalter, von Bogdan Sepiol entworfen, wurde benutzt um die diffuse Streuung mit einem Si-PIN Röntgendetektor zu messen. Dieser Präparathalter wurde hierfür extra in einer Röntgenkleinwinkelanlage Nanostar installiert.
Im Nanostar wurden sowohl Kleinwinkel- als auch Weitwinkel-Röntgenstreuung-Messungen der Proben Cu90Au10, Fe55Al45, Ni58Al42 und Ni90Pt10 durchgeführt. Diese Messungen dienten zur diffusen Intensitätskorrektur und der Bestimmung der Kristallorientierung der Legierungen.
Abstract (eng)
The objective of this master thesis is to investigate the diffuse scattering of binary inermetallic crystals like Fe55Al45 and Ni58Al42. A diffuse intensity measurement of a Cu90Au10 sample served as a reference, since Schönfeld examined the diffuse scattering of the same sample as well in the last century. Thus the experimental measurements can be compared with his results.
In addition, the polar projection is found as a suitable method to compare the measurements of the diffuse scattering. The Warren-Cowley short-range order parameters determined by Schönfeld were used to create a polar projection of the diffuse diffraction pattern of Cu90Au10, which was used for comparison with the measured diffuse intesity of Cu90Au10 in this master thesis.
A special speciment mount designed by Bogdan Sepiol was utilized and installed in a small angle X-ray scattering (SAXS) system called Nanostar to measure the diffuse intensity with a Si-PIN X-ray detector.
In the Nanostar were performed SAXS and wide angle X-ray scattering (WAXS) measurements of the samples Cu90Au10, Fe55Al45, Ni58Al42 and Ni90Pt10. These measurements served for the diffuse intensity correction and the determination of the crystall orientation.
Keywords (deu)
binäre LegierungNahordnungsparameterdiffuse Streuungdiffuses StreubildNanostarWAXSSAXSCu90Au10Fe55Al45Ni58Al42Ni90Pt10
Subject (deu)
Type (deu)
Persistent identifier
https://phaidra.univie.ac.at/o:1400239
Number of pages
83
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